特性: | KLIPPEL R&D系统 | KLIPPEL QC系统 |
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调制噪声的绝对包络MOD | ALD | |
调制噪声的相对包络RMOD | ALD | |
随机失真的峰值RAND | TRF | |
确定性失真的峰值DET | TRF | |
确定性失真的波峰系数CREST | TRF | |
机械损耗因数Qms | ||
端口共振频率fp | IMP, MSC |
KLIPPEL QC系统 (产线终端测试)
KLIPPEL产品模板
模板名称 | 应用 |
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TRF rub+buzz w/o Golden Unit | 根据应用笔记AN22,在没有"黄金样"情况下进行Rub&Buzz检测 |
TRF rub+buzz with Golden Unit | 根据应用笔记AN23,在有"黄金样"情况下进行Rub&Buzz检测 |
Diagnost. RUB&BUZZ Sp1 | 使用不断增加的电压 (馈入到高功率设备)进行Rub&Buzz批量测试 |
Diagnost. RUB & BUZZ Sp2 | 使用不断增加的电压 (馈入到低功率设备)进行Rub&Buzz批量测试 |
TRF Crest Harmonics (x,f) | 与位移相关的谐波失真的波峰系数,来找出Rub&Buzz和其他扬声器缺陷 |
TRF Peak harmonics, time domain | 对于Rub&Buzz分析,在时域中得到的高阶谐波的峰值 |
Diagnost. MIDRANGE Sp1 | 使用标准电流传感器1对谐振频率在30 Hz < fs < 200 Hz之间的中频驱动单元进行全面的测试 |
Diagnost. SUBWOOFER (Sp1) | 使用标准电流传感器1对谐振频率在10 Hz < fs < 70 Hz之间的超低音喇叭进行全面的测试 |
Diagnostics MICROSPEAKER Sp2 | 使用灵敏电流传感器2对谐振频率在100 Hz < fs < 2 kHz之间的微型扬声器进行全面的测试 |
Diagnostics TWEETER (Sp2) | 使用灵敏电流传感器2对谐振频率在100 Hz < fs < 2 kHz之间的高音扬声器进行全面的测试 |
Diagnostics VENTED BOX SP1 | 使用标准电流传感器1对开口箱系统进行全面的测试 |
Diagnostics WOOFER (Sp1) | 使用标准电流传感器1对谐振频率在30 Hz < fs < 200 Hz之间的超低音扬声器进行全面的测试 |
LPM Microspeaker T/S (SP2) | 使用灵敏电流传感器2测量微型扬声器的线性参数 |
LPM Subwoofer T/S (Sp1) | 使用标准电流传感器1测量超低音扬声器的线性参数 |
LPM Subwoofer T/S (Sp2) | 使用灵敏电流传感器2测量超低音扬声器的线性参数 |
LPM Tweeter T/S (SP2) | 使用灵敏电流传感器2测量高音扬声器的线性参数 |
LPM Woofer T/S (Sp1) | 使用标准电流传感器1测量低音扬声器的线性参数 |
LPM Woofer T/S (Sp2) | 使用灵敏电流传感器2测量低音扬声器的线性参数 |
LSI Woofer+Box Nonl. P Sp1 | 使用标准电流传感器SP1测量在自由空气、密闭或开口箱中工作的低音扬声器 (fs < 300 Hz)的非线性参数 |
Diagnostics WOOFER Sp1,2 | 使用电流传感器1和2对谐振频率在30 Hz < fs < 200 Hz之间的超低音扬声器进行全面的测试 |
W. Klippel, Tutorial “Loudspeaker Nonlinearities - Causes, Parameters, Symptoms,” J. of Audio Eng. Soc. 54, No. 10, pp. 907-939 (2006 Oct.).
W. Klippel, U. Seidel, “Measurement of Impulsive Distortion, Rub and Buzz and other Disturbances,” presented at the 114th Convention of the Audio Eng. Soc., 2003 March 22–25, Amsterdam, The Netherlands, Preprint 5734.