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时频分析

特性:

KLIPPEL R&D系统

时窗脉冲响应

TRF, TFA

阶跃响应

TRF, TFA

能量时间曲线

TRF, TFA

群延迟响应

TRF, TFA

时域中的脉冲响应以及频域中的幅度和相位响应是线性系统的两个替代描述,它们通过傅里叶或拉普拉斯变换直接耦合。但是,仅将脉冲响应的加窗部分转换到频域中,移动窗口位置后进行重复转换,即可显示出脉冲响应随时间变化的频谱特性。时窗的宽度和形状决定了分析的频谱和时间分辨率。高频谱分辨率(针对低频分量)需要较长的时间窗,而高时间分辨率(针对高频分量)则需要较短的时间窗长度。例如,小波变换(请参见左图)使用有效时间窗,该时间窗在较高频率下会变小。时频分析对于识别具有高品质因数(例如房间模式)的共振非常重要,这些共振会在时域中引起长振铃,但在总脉冲响应或稳态频率响应中不可见。

KLIPPEL R&D系统 (开发)

模组

备注

传递函数测量 (TRF)

TRF中的后处理能力提供了不同的时频分析方法(累积衰减、Wigner分布和声谱图)。
时频分析 (TFA)TFA使用小波变换、滤波器组和短时傅里叶变换分析数据,并可视化测得的信号和音频文件。

KLIPPEL产品模板

模板名称

应用

TRF cumulative decay

累积频谱衰减

TRF SPL + waterfall

声压级和累积衰减频谱

TRF sensitivity (Mic 2)

使用麦克风校准器在IN2处校准麦克风

TRF true acoustical phase

无时延的总相位

TRF SPL + harmonics

基波分量 (SPL)和谐波失真的标准测量

Diagnost. MIDRANGE Sp1

使用标准电流传感器1对谐振频率在30 Hz < fs < 200 Hz之间的中频驱动单元进行全面测试

Diagnost. RUB&BUZZ Sp1

使用不断增加的电压 (馈入到高功率设备)进行Rub&Buzz批量测试

Diagnostics MICROSPEAKER Sp2

使用灵敏电流传感器2对谐振频率在100 Hz < fs < 2 kHz之间的微型扬声器进行全面的测试

Diagnostics TWEETER (Sp2)

使用灵敏电流传感器2对谐振频率在100 Hz < fs < 2 kHz之间的高音扬声器进行全面的测试

Diagnostics VENTED BOX SP1

使用标准电流传感器1对开口箱系统进行全面的测试

Diagnostics WOOFER (Sp1)

使用标准电流传感器1对谐振频率在30 Hz < fs < 200 Hz之间的超低音扬声器进行全面的测试

Diagnostics WOOFER Sp1,2

使用电流传感器1和2对谐振频率在30 Hz < fs < 200 Hz之间的超低音扬声器进行全面的测试

IEC 20.6 Mean SPL

根据IEC 60268-5第20.6章节测量规定频带内的平均声压级

IEC 21.2 Frequency Range

根据IEC 60268-5第21.2章节测量有效频率范围

IEC 22.4 Mean Efficiency

根据IEC 60268-5第22.4章节测量频带内的平均效率


标准

音频工程学会
AES2 Recommended practice Specification of Loudspeaker Components Used in Professional Audio and Sound Reinforcement (AES2推荐的用于专业音频和声音增强的扬声器组件的实用规范)

国际电工委员会
IEC 60268-5 Sound System Equipment, Part 5: Loudspeakers ( IEC 60268-5声音系统设备,第5部分: 扬声器)




论文和预印本

D. Keele, “Time-Frequency Display of Electroacoustic Data Using Cycle-Octave Wavelet Transforms,” presented at the 99th Convention of Audio Eng. Soc. (October 1995), Paper No. 4136.

D. Newland, “Harmonic Wavelets in Vibration and Acoustics,” Phil. Trans. R. Soc. Lond. A (1999) 357, 2607 –625.

C. Janse, A. Kaizer, “Time-Frequency Distributions of Loudspeakers: The Application of the Wigner Distribution,” J. of Audio Eng. Soc., Volume 31, Issue 4, pp. 198-223, April 1983.

M. Poletti, “Linearly Swept Frequency Measurements, Time-Delay Spectrometry, and the Wigner Distribution,” J. of Audio Eng. Soc., Volume 36, Issue 6, pp. 457-468, June 1988.

M. Berman, L. Fincham, “The Application of Digital Techniques to the Measurement of Loudspeakers,” J. of Audio Eng. Soc., Volume 25, Issue 6, pp. 370-384, June 1977.