特性: | KLIPPEL R&D系统 | KLIPPEL QC系统 |
|---|---|---|
共振频率fs | LPM, LSI3, PWT, RMA, HMA | IMP, SPL-IMP, MSC |
机械品质因数Qms | LPM, LSI3, PWT, RMA, HMA | IMP, SPL-IMP, MSC |
电品质因数Qes | LPM, LSI3, PWT | IMP, SPL-IMP, MSC |
直流电阻Re | LPM, LSI3, PWT | IMP, SPL-IMP, MSC |
力因数Bl(x=0) | LPM, LSI3, PWT | IMP, SPL-IMP, TSX |
机械阻Rms(v=0) | LPM, LSI3, PWT | IMP, SPL-IMP, TSX |
刚性Kms(x=0)和顺性Cms(x=0) | LPM, LSI3, PWT | SPL-IMP, TSX |
附加TS参数（例如Vas） | LPM, LSI3, PWT | IMP, SPL-IMP, TSX |
粘弹性参数 (蠕变因子λ) | LPM | TSX |
有损电感参数 (Wright、Leach、LR2模型) | LPM | IMP |
线性集总参数描述换能器在小信号域和特定频率（此时换能器的尺寸小于波长）处的振动和传递行为。电阻抗测量提供了电等效电路中的参数（如直流电阻Re、谐振频率fs、品质因数Qes、Qms和Qts）。较高频率处，阻抗的精确建模需要额外的集总参数（例如Leach、Wright、LR2模型），来描述由于极尖涡流引起的电损耗。
可以通过执行第二次扰动测量（配重、放入测试腔体）来估计机械参数（振动质量Mms）。但这两种方法对高频换能器都不实用。测试腔体方法需要有效辐射面积Sd和空气体积的精确值。直接测量机械振动并使用激光传感器能给出更精确的结果，尤其是当辐射器表面的空间平均补偿了摇摆模式时。机械振动的直接测量揭示了粘弹性效应(蠕变)，它在非常低的频率下降低了悬挂的刚性。特定的TS参数（例如悬挂的等效空气体积）可以从物理参数中导出。
换能器在较高振幅下产生的非线性失真可能会影响线性参数的准确性。而基于非线性扬声器模型的新颖测量技术，提供与小信号参数相对应的静止位置x=0处的参数。然而，由于悬挂材料的粘弹性，刚性Kms(x=0)和共振频率fs(x=0)随着峰值位移xpeak而降低。不受空气影响的机械参数可以通过在真空中运作换能器来测量。
KLIPPEL R&D系统 (开发)
模组 | 备注 |
|---|---|
LPM通过使用多音激励信号来测量小信号参数，保证了小信号域的电压和电流的最佳SNR。LPM支持扰动和激光技术，检查换能单元的线性运作，还可以使用扩展的蠕变和损耗电感模型。 | |
LSI3使用高幅值的粉噪激励喇叭的同时测量静止位置x=0处的参数值。 | |
PWT使用任意激励信号(音乐)使换能器在大信号域工作，同时测量静止位置x=0处的参数值。 | |
SCN测量机械传递函数Hx(f)，并通过辐射表面上多点位移的空间平均来应对摇摆模式。 | |
| 高阶模态分析 (HMA) | HMA对分布式振动数据进行模态分析（如来自 Klippel SCN）。它将总振动分解为不同模式的贡献，由模式参数（共振频率、阻尼系数、增益）和模式形状（特征振动模式）描述。它可视化音盆变形并简化模式相互作用和声辐射的系统分析。 |
| 摇摆模式分析 (RMA) | RMA分析振膜上可能导致脉冲失真的不希望的摇摆模式。它确定了质量、刚性和电磁力因数分布的不平衡，这是摇摆运动的主要原因。它还量化了由这些效应中的每一个引起的激振力，并支持用户膜片上找到干扰的位置。 |
KLIPPEL QC系统 (产线终端测试)
模组 | 备注 |
|---|---|
IMP通过使用正弦扫频信号(chirp)或者多音激励信号在小信号域高速测量线性换能器模型的T/S参数和其他小信号参数。; | |
| 声压和阻抗任务 (SPL-IMP) | SPL-IMP是专用于QC应用的综合测量任务。它将SPL任务的速度和灵敏度与阻抗任务的精确集总参数测量相结合,使用的是正弦chirp激励。 |
MSC无需进行额外的小信号测量，而是使用超短多音激励信号在大信号域中使换能器工作，测量其在静止位置x=0处的非线性参数。 | |
| T/S参数激光拟合g (TSX) | TSX通过激光位移测量增强QC阻抗任务，以实现全机械线性参数识别。 |
示例：
KLIPPEL产品模板
模板名称 | 应用 |
|---|---|
LPM Microspeaker T/S (SP2) | 使用灵敏电流传感器2测量微型扬声器的线性参数 |
LPM Subwoofer T/S (Sp1) | 使用标准电流传感器1测量超低音扬声器的线性参数 |
LPM Subwoofer T/S (Sp2) | 使用灵敏电流传感器2测量超低音扬声器的线性参数 |
LPM Tweeter T/S (SP2) | 使用灵敏电流传感器2测量高音扬声器的线性参数 |
LPM Woofer T/S (Sp1) | 使用标准电流传感器1测量低音扬声器的线性参数 |
LPM Woofer T/S (Sp2) | 使用灵敏电流传感器2测量低音扬声器的线性参数 |
LPM Woofer T/S added mass | 使用配重法测量低音扬声器的线性参数 |
LSI Tweeter Nonlin. Para Sp2 | 在灵敏电流传感器2处测量fs>400 Hz的高音扬声器 |
LSI Headphone Nonlin. P. Sp2 | 在灵敏电流传感器2处测量耳机 (fs < 300 Hz)的非线性参数 |
LSI Woofer Nonl. P. Sp1 | 使用标准电流传感器1测量低音扬声器 (fs< 300Hz)的非线性参数 |
LSI Woofer Nonl.+Therm. Sp1 | 使用标准电流传感器SP1测量低音扬声器 (fs<300 Hz)的非线性和热参数 |
LSI Woofer+Box Nonl. P Sp1 | 使用标准电流传感器SP1测量在自由空气、密闭或开口箱中工作的低音扬声器 (fs<300Hz)的非线性参数 |
LSI Microspeaker Nonl. P. Sp2 | 使用灵敏电流传感器2测量微型扬声器 (fs>300Hz)的非线性参数 |
PWT 8 Woofers Param. ID Noise | 使用内部测试信号 (无循环、无步进)对低音扬声器进行参数识别 |
PWT Woofer Param. ID MUSIC | 使用外部测试信号 (无ON/OFF循环、无步进)对低音扬声器进行参数识别 |
PWT Woofer param. ID NOISE | 使用内部测试信号 (无ON/OFF循环、无步进)对低音扬声器进行参数识别 |
Diagnost. MIDRANGE Sp1 | 使用标准电流传感器1对谐振频率在30Hz<fs<200Hz之间的中频驱动单元进行全面的测试 |
Diagnost. RUB&BUZZ Sp1 | 使用不断增加的电压 (馈入到高功率设备)进行Rub&Buzz批量测试 |
Diagnost. RUB & BUZZ Sp2 | 使用不断增加的电压 (馈入到低功率设备)进行Rub&Buzz批量测试 |
Diagnost. SUBWOOFER (Sp1) | 使用标准电流传感器1对谐振频率在10Hz<fs<70Hz之间的超低音喇叭进行全面的测试 |
Diagnostics MICROSPEAKER Sp2 | 使用灵敏电流传感器2对谐振频率在100Hz<fs<2kHz之间的微型扬声器进行全面的测试 |
Diagnostics TWEETER (Sp2) | 使用灵敏电流传感器2对谐振频率在100Hz<fs<2 kHz之间的高音扬声器进行全面的测试 |
Diagnostics VENTED BOX SP1 | 使用标准电流传感器1对开口箱系统进行全面的测试 |
Diagnostics WOOFER (Sp1) | 使用标准电流传感器1对谐振频率在30Hz<fs<200 Hz之间的超低音扬声器进行全面的测试 |
Diagnostics WOOFER Sp1,2 | 使用电流传感器1和2对谐振频率在30Hz<fs<200Hz之间的超低音扬声器进行全面的测试 |
音频工程学会
AES2 Recommended practice Specification of Loudspeaker Components Used in Professional Audio and Sound Reinforcement (AES2推荐的用于专业音频和声音增强的扬声器组件的实用规范)
国际电工委员会
IEC Standard IEC 60268-5 Sound System Equipment, Part 5: Loudspeakers (IEC标准 IEC60268-5声音系统设备，第5部分: 扬声器)
IEC Standard IEC 62458 Sound System Equipment – Electroacoustic Transducers - Measurement of Large Signal Parameters (IEC标准 IEC62458 声音系统设备 - 电声换能器 - 大信号参数的测量)
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