特性: | KLIPPEL R&D系统 | KLIPPEL QC系统 |
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直流位移和频率的关系 | DIS | DCX |
直流位移和幅度的关系 | DIS | |
非对称概率函数pdf | LSI3, PWT | |
峰-谷值 | DIS, TRF, LSI, PWT, SPM, LAA | MSC, DCX |
KLIPPEL R&D系统 (开发)
模组 | 备注 |
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TRF可以在位移波形图及Rub&Buzz分析(瞬时失真3D图)中揭示直流分量。 | |
LSI3通过使用非线性大信号模型及识别的扬声器参数,将粉红噪声作为激励信号,来预测直流位移。预测值可与激光传感器单独测量的值相当。 | |
PWT提供与LSI相似的功能,但是也可以使用普通音频信号对多个被测设备进行直流分量的监测。 | |
DIS模块在不同的激励水平上测量直流分量的稳态响应。 | |
实时音频分析仪 (LAA) | LAA测量动态直流位移与时间的关系。可以使用生成的粉噪或任何给定的音乐信号。此外,通过使用线性建模,可以将不规则异常音效应进行可听化。 |
KLIPPEL QC系统 (产线终端测试)
模组 | 备注 |
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MSC 使用大信号模型和识别的非线性参数,在超短时间 (< 1s)内计算出直流分量,而不需要激光传感器。 |
动态行程检查和控制 (DCX) | SPL任务的DCX附加组件使用位移传感器分析行程包络和音圈的动态偏移。可以应用限制并且可以检测到压缩和非线性(不稳定的线圈位置)效应。使用正弦chirp激励信号。推荐使用带有直流耦合输入的KA3硬件。 |
KLIPPEL产品模板
模板名称 | 应用 |
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DIS Motor stability | 根据应用笔记AN14在1.5 fs处 (此时Xdc最大)检查电机的稳定性 |
DIS X Fundamental, DC | 位移的基频和直流分量 |
SIM X Fundamental, DC | 从LSI导入大信号参数,仿真最大位移、直流位移、压缩;仿真结果与DIS X Fundamental, DC 相当. |
SIM Motor Stability | 根据应用笔记AN14检查电机稳定性;仿真结果可与DIS Motor stability 相当. |
Diagnost. MIDRANGE Sp1 | 使用标准电流传感器1对谐振频率在30 Hz < fs < 200 Hz之间的中频驱动单元进行全面的测试 |
Diagnost. RUB&BUZZ Sp1 | 使用不断增加的电压 (馈入到高功率设备)进行Rub&Buzz批量测试 |
Diagnost. RUB & BUZZ Sp2 | 使用不断增加的电压 (馈入到低功率设备)进行Rub&Buzz批量测试 |
Diagnost. SUBWOOFER (Sp1) | 使用标准电流传感器1对谐振频率在10 Hz < fs < 70 Hz之间的超低音喇叭进行全面的测试 |
Diagnostics MICROSPEAKER Sp2 | 使用灵敏电流传感器2对谐振频率在100 Hz < fs < 2 kHz之间的微型扬声器进行全面的测试 |
Diagnostics TWEETER (Sp2) | 使用灵敏电流传感器2对谐振频率在100 Hz < fs < 2 kHz之间的高音扬声器进行全面的测试 |
Diagnostics VENTED BOX SP1 | 使用标准电流传感器1对开口箱系统进行全面的测试 |
Diagnostics WOOFER (Sp1) | 使用标准电流传感器1对谐振频率在30 Hz < fs < 200 Hz之间的超低音扬声器进行全面的测试 |
Diagnostics WOOFER Sp1,2 | 使用电流传感器1和2对谐振频率在30 Hz < fs < 200 Hz之间的超低音扬声器进行全面的测试 |
Separate suspension | 根据应用笔记AN2分离折环和弹波的刚性 |
SPM Suspension Part | 基于单信号 (ONE-SIGNAL)方法测量弹波和小音盆的非线性刚性 |
LSI Tweeter Nonlin. Para Sp2 | 使用灵敏电流传感器2测量fs > 400 Hz的高音扬声器 |
LSI Headphone Nonlin. P. Sp2 | 使用灵敏电流传感器2测量耳机 (fs < 300 Hz)的非线性参数 |
LSI Woofer Nonl. P. Sp1 | 使用标准电流传感器1测量低音扬声器 (fs < 300 Hz)的非线性参数 |
LSI Woofer Nonl.+Therm. Sp1 | 使用标准电流传感器SP1测量低音扬声器 (fs < 300 Hz)的非线性和热参数 |
LSI Woofer+Box Nonl. P Sp1 | 使用标准电流传感器SP1测量在自由空气、密闭或开口箱中工作的低音扬声器 (fs < 300 Hz)的非线性参数 |
LSI Microspeaker Nonl. P. Sp2 | 使用灵敏电流传感器2测量微型扬声器 (fs > 300 Hz)的非线性参数 |
TRF Crest Harmonics (x,f) | 与位移相关的谐波失真的波峰系数,来找出Rub&Buzz和其他扬声器缺陷 |
TRF Peak harmonics, time domain | 对于Rub&Buzz分析,在时域中得到的高阶谐波的峰值 |
TRF rubb+buzz w/o Golden Unit | 根据应用笔记AN22,在没有"黄金样"情况下进行Rub&Buzz检测 |
TRF rubb+buzz with Golden Unit | 根据应用笔记AN23在有" 黄金样"情况下进行Rub&Buzz检测 |
DIS Compliance Asymmetry AN 15 | 根据应用笔记AN15检查由顺性引起的非对称性 |
SIM closed box analysis | 从LSI BOX导入大信号参数仿真最大位移、直流位移、压缩、SPL、失真 |
SIM Compression Out(In) | 从LSI导入大信号参数在四个频率处仿真随输入幅度变化的输出幅度;仿真结果与DIS Compression Out(In)相当. |
SIM vented box analysis | 从LSI BOX导入大信号参数,仿真最大位移、直流位移、压缩、SPL、谐波失真 |
W. Klippel, Tutorial “Loudspeaker Nonlinearities - Causes, Parameters, Symptoms,” J. of Audio Eng. Soc. 54, No. 10, pp. 907-939 (2006 Oct.).
W. Klippel, “Assessment of Voice-Coil Peak Displacement Xmax,” J. of Audio Eng. Soc. 51, Heft 5, pp. 307 - 323 (2003 May).
W. Klippel, “Nonlinear Large-Signal Behavior of Electrodynamic Loudspeakers at Low Frequencies,” J. of Audio Eng. Soc., Volume 40, pp. 483-496 (1992).
W. Klippel, “Prediction of Speaker Performance at High Amplitudes,” presented at 111th Convention of the Audio Eng. Soc., 2001 September 21–24, New York, NY, USA.