谐波失真
特性: | KLIPPEL R&D系统 | KLIPPEL QC系统 |
|---|---|---|
| 总谐波失真 (THD, THD+N) | TRF, DIS | SPL, SPL-IMP |
| N阶分量与频率和幅度的关系 | TRF, DIS | SPL, SPL-IMP |
| Hi-2失真 (加权低阶谐波) | DIS | SPL |
| 等效输入失真 | TRF, DIS |
模组 | 备注 |
|---|---|
TRF为传递函数测量中的所有信号提供快速谐波失真分析（THD以及高阶谐波分量）。 | |
DIS使用用户定义的预激励时间执行稳态的失真测量。DIS步进增加激励信号的幅值，并在音圈温度或者失真超过用户定义值时保护被测换能器。 |
模组 | 备注 |
|---|---|
| 这两个任务通过使用带有扫频速度和幅值性能的正弦chirp信号，可以在超短测量时间内稳定激励关键频率范围内的扬声器，以此来测量2nd-5th谐波和THD。 |
示例:
KLIPPEL产品模板
模板名称 | 应用 |
|---|---|
Diagnost. MIDRANGE Sp1 | 使用标准电流传感器1对谐振频率在30 Hz < fs < 200 Hz之间的中频驱动单元进行全面的测试 |
Diagnost. RUB & BUZZ Sp2 | 使用不断增加的电压 (馈入到低功率设备)进行Rub&Buzz批量测试 |
Diagnost. RUB & BUZZ Sp2 | 使用不断增加的电压 (馈入到低功率设备)进行Rub&Buzz批量测试 |
Diagnost. SUBWOOFER (Sp1) | 使用标准电流传感器1对谐振频率在10 Hz < fs < 70 Hz之间的超低音喇叭进行全面的测试 |
Diagnostics MICROSPEAKER Sp2 | 使用灵敏电流传感器2对谐振频率在100 Hz < fs < 2 kHz之间的微型扬声器进行全面的测试 |
Diagnostics TWEETER (Sp2) | 使用灵敏电流传感器2对谐振频率在100 Hz < fs < 2 kHz之间的高音扬声器进行全面的测试 |
Diagnostics VENTED BOX SP1 | 使用标准电流传感器1对开口箱系统进行全面的测试 |
Diagnostics WOOFER (Sp1) | 使用标准电流传感器1对谐振频率在30 Hz < fs < 200 Hz之间的超低音扬声器进行全面的测试 |
Diagnostics WOOFER Sp1,2 | 使用电流传感器1和2对谐振频率在30 Hz < fs < 200 Hz之间的超低音扬声器进行全面的测试 |
EIA 7.4 Distortion | 根据“EIA-426-B 7.4 章节B – 失真“的失真测量 |
Equivalent Input Dist. AN 20 | 根据应用笔记AN20测量等效输入失真 |
Hi-2 Dist. Automotive AN 7 | 根据应用笔记AN7测量加权谐波失真 (blat失真) |
IEC 24.4 Harmonic Distortion | 根据IEC 60268-5第24.4章节测量典型谐波失真 |
Max SPL Level THD at LIMIT | 以给定的谐波失真 (THD)百分数测量最大声压级 (SPL) |
Xmax10 % distortion | 产生10%失真时的最大峰值位移 |
TRF Crest Harmonics (x,f) | 与位移相关的谐波失真的波峰系数，来找出Rub&Buzz和其他扬声器缺陷 |
TRF Equiv. Input Harm. (SPL) | 通过测得的失真的反滤波处理计算出等效谐波输入失真 |
TRF Harmonics current (Sp1) | 使用标准电流传感器1测量电流信号的谐波 |
TRF Peak harmonics, time domain | 对于Rub&Buzz分析，在时域中得到的高阶谐波的峰值 |
TRF rubb+buzz w/o Golden Unit | 根据应用笔记AN22，在没有"黄金样"情况下进行Rub&Buzz检测 |
TRF rubb+buzz with Golden Unit | 根据应用笔记AN23，在有"黄金样"情况下进行Rub&Buzz检测 |
TRF SPL + harmonics | 基波分量 (SPL)和谐波失真的标准测量 |
DIS 3D Harmonics AN 9 | 根据应用笔记AN9测量关于频率和电压的谐波失真 |
DIS Harmonics vs. Voltage | 随幅值变化的谐波失真测量 |
DIS HI-2 | 应用笔记AN7中的加权谐波失真 (blat失真) |
DIS SPL, Harm protected | 有保护的谐波失真测量 |
SIM closed box analysis | 从LSI BOX导入大信号参数仿真最大位移、直流位移、压缩、SPL、失真 |
SIM Equiv. Input Harmonics | 从LSI导入大信号参数仿真等效输入谐波失真；仿真结果与TRF Equiv. Input Harm. (SPL)相当。 |
SIM vented box analysis | 从LSI BOX导入大信号参数，仿真最大位移、直流位移、压缩、SPL、谐波失真 |
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